د

• دشتی.رحمن مکان‌یابی خطا در شبکه‌های توزیع با استفاده از ترکیب روش امپدانسی و فرورفتگی ولتاژ‌ [ دوره15, شماره 1 , 1 - بهار سال 1396]
• دیدبان.داریوش آنالیز و گسترش مدل فشرده زمان تأخیر انتشار گیت‌های NAND فناوری CMOS نانومتری در مقابل تغییرات آماری فرآیند ساخت [ دوره15, شماره 4 , 1 - زمستان سال 1396]
• دیسی.محمد مکان‌یابی خطا در شبکه‌های توزیع با استفاده از ترکیب روش امپدانسی و فرورفتگی ولتاژ‌ [ دوره15, شماره 1 , 1 - بهار سال 1396]